日本AND 冲击检测功能分析天平
用于测量泵流量和其他液体的流量
FRD：流量显示将负载的变化计算为“流量" 仅使用天平即可进行高精度流量测量
ECL：电子控制负载（自检）功能，用于检查天平的重复性和最小称量值
内部平衡机制无需使用外部砝码即可计算天平的重复性，仅需 90 秒即可完成GX-AE 系列无风离子发生器 开关仅限 0.1mg 型号

日本AND 冲击检测功能分析天平

日本AND 冲击检测功能分析天平

最小显示0.1mg-内置砝码，可随时进行高精度测量0.1mg

6个型号（最小显示）

0.001g：6个型号0.01g

5个型号0.1g

2个型号新开发的传感器方式智能超级混合传感器实现高速响应和高分辨率ISD：安装在生产线上时的

冲击检测功能当秤盘受到冲击时，四级警告显示和蜂鸣器声音将通知您。

用于测量泵流量和其他液体的流量

FRD：流量显示将负载的变化计算为“流量" 仅使用天平即可进行高精度流量测量

ECL：电子控制负载（自检）功能，用于检查天平的重复性和最小称量值

A&D 的内部平衡机制无需使用外部砝码即可计算天平的重复性，仅需 90 秒即可完成GX-AE 系列无风离子发生器 开关仅限 0.1mg 型号

一、定义与核心原理

分析电子天平是一种基于电磁力平衡原理的高精度称量仪器，通过电磁线圈产生的力与待测物体重力相互作用实现测量，精度可达0.1 mg（万分之一）至0.01 mg（十万分之一）。其核心优势包括全自动校准、数字化显示及多模式输出（如RS232接口），适用于实验室、工业生产和科研领域。

二、分类与性能特点

按精度分类超微量天平：最大称量2–5 g，分辨率≤10⁻⁶，用于纳米材料、药物成分分析。

常量天平：称量范围100–500 g，分辨率0.1 mg，适用于常规化学实验与工业质检。

按功能分类内校型：内置校准砝码，一键自动校准，减少人为误差。

外校型：需手动放置外部标准砝码校准，成本较低。

三、操作与维护规范

操作流程预热：通电预热≥30分钟，确保传感器稳定性。

校准：使用前需进行零点校准或全量程校准（如加载标准砝码）。

环境控制：温度波动≤1℃/h，湿度50%–75%，避免气流和震动干扰。

维护要点清洁：定期用软布擦拭称盘，避免粉尘堆积影响精度。

校准周期：高频使用场景建议每月校准一次，低频率使用每季度校准。

四、典型应用场景

实验室研究：化学分析中精确称量试剂（如0.01 mg级催化剂）。

药物开发中冻干粉称重，确保剂量一致性。

工业生产：锂电池电极材料配比称量，误差控制≤0.1%。

贵金属（如黄金、铂金）加工中的质量检测。

五、选型指南

参数匹配精度需求：半导体行业优选0.01 mg级，食品检测可选0.1 mg级。

量程范围‌：根据样品重量选择，如矿石检测需500 g以上量程天平。

功能扩展需数据联网时，选择支持RS232或USB接口的型号。

腐蚀性环境（如化工实验室）优先选用不锈钢材质或防腐涂层天平。